兩年一屆的全國顆粒測試學(xué)術(shù)會(huì)議，是由中國顆粒學(xué)會(huì)顆粒測試專業(yè)委員會(huì)主辦的顆粒測試領(lǐng)域的最高水平的學(xué)術(shù)交流會(huì)。在本次天津會(huì)議上，來自國內(nèi)外顆粒測試專家學(xué)者就顆粒測試技術(shù)的最新研究成果做了報(bào)告。百特產(chǎn)品總監(jiān)寧輝博士做了“背向動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)檢測高濃度納米樣品”的報(bào)告。他詳細(xì)講述了動(dòng)態(tài)光散射和電泳光散射測試納米粒度和Zeta電位的原理，講述了高濃度納米樣品測試的背向動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)和采用此項(xiàng)技術(shù)的BeNano系列的儀器。寧博士用淺顯生動(dòng)的語言講述高深的納米測試的最新技術(shù)問題，受到與會(huì)專家和代表的高度評價(jià)。

        中國顆粒學(xué)會(huì)顆粒測試專業(yè)委員會(huì)副主任、本次大會(huì)學(xué)術(shù)委員會(huì)副主席董青云全程出席了大會(huì)、專委會(huì)擴(kuò)大會(huì)、專題報(bào)告會(huì)等多場活動(dòng)并主持了特邀報(bào)告會(huì)。會(huì)議期間，董總與全國顆粒測試界的新老朋友共話情誼，探討了合作推進(jìn)顆粒測試技術(shù)向更高水平邁進(jìn)的途徑。

       本次學(xué)術(shù)交流會(huì)還設(shè)立了展覽區(qū)，展出了近兩年來國內(nèi)外顆粒測試的最新技術(shù)成果。丹東百特展出的BeNano 180 Zeta Pro納米粒度與Zeta電位儀，將90°和173°角納米粒度測試、ELS（電泳法）和PALS（相位分析法） Zeta電位測試四種技術(shù)于一體，既能測納米粒度又能側(cè)Zeta電位，既適用于低濃度又適用于高濃度，既能測常規(guī)量樣品，又能測微量樣品，既能配固體激光器又能配氣體激光器，并且它還能測試高分子及蛋白體系的分子量，是一種配置完整、功能強(qiáng)大、具有國際水平的納米分析儀器。

        為期兩天的第十三屆全國顆粒測試學(xué)術(shù)會(huì)議圓滿結(jié)束了，它將是攀登顆粒測試技術(shù)高峰征途上的加油站，為中國顆粒測試技術(shù)趕超世界先進(jìn)水平助力前行。