BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。 該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可 廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的 基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測
原理 | 動態(tài)光散射技術(shù) |
粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
樣品量 | 3 μL – 1 mL |
檢測角度 | 173 °+90 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zate電位測試
原理 | 相位分析光散射技術(shù) |
檢測角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
電導(dǎo)率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – 110 μm |
分子量測試
分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測試
測試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
粘度和折光率測試
粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范圍 | 1.3-1.6 |
趨勢測試
時間與溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 | -15°C - 110°C,精度±0.1°C |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
相關(guān)器 | 50 mW 高性能固體激光器, 671 nm |
電泳遷移率范圍 | 最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍 |
檢測器 | APD (高性能雪崩光電二極管) |
光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%,手動或者自動 |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測參數(shù)
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測技術(shù)
●動態(tài)光散射
●靜態(tài)光散射
●電泳光散射
選配件
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
相關(guān)技術(shù)
相關(guān)應(yīng)用